日本KETT LZ-200J膜厚計/涂層測厚儀的特點：
日本KETT LZ-200J膜厚計/涂層測厚儀采用了磁性和渦流兩種測厚方法。日本KETT LZ-200J膜厚計/涂層測厚儀可無損的測量磁性金屬基體（如鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性覆層的厚度（如銅、鋁、鉻、琺瑯、橡膠、油漆等）及非磁性金屬基體（如銅、鋁、鋅、錫等）上的非導電覆層的厚度（如琺瑯、橡膠、油漆、塑料等）。日本KETT LZ-200J膜厚計/涂層測厚儀內置打印機，可打印數據，有四個統計功能。

日本KETT LZ-200J膜厚計/涂層測厚儀的技術參數：

測定方法	電磁式及高頻渦流式
測定對象	磁性金屬上非磁性涂鍍層及非磁性金屬上絕緣層
測定范圍	電磁式：0～1500um或0～60.0mils
	高頻式：0～800um或0～32.0mils
測定精度	電磁式：<15um±0.3um >15um±2%
	高頻式：<50um±1um >50um±2%
分辨率	<100um 0.1um >100um 1um
界限設定	可設定上/下限數值

測試單位	公/英制互換
顯示方式	LCD數顯
操作面板	密封防水按鍵
附屬品	鐵基體/鋁基體/校正標準片/電池/皮套/說明書
電源	DV3V 主機5#堿性電池×6個 打印機5#堿性電池×4個
體積	80（W）×80（D）×30（H）
重量	1100g